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關(guān)于壓模塊電源的綜合調(diào)整率
更新時間:2015-06-25   點(diǎn)擊次數(shù):1613次

 

  溫電源是為工作于惡劣環(huán)境下的電子設(shè)備設(shè)計(jì)的。它耐溫,耐沖擊,耐潮濕。它特別適合于石油勘探井下儀器,石油鉆井井下儀器,物探,車輛和運(yùn)輸,和網(wǎng)絡(luò)基礎(chǔ)設(shè)施,企業(yè)和計(jì)算等等!給客戶提供,率和zui的產(chǎn)品組合,解決在惡劣環(huán)境下地管理從墻壁插座,電池或發(fā)電機(jī)到單點(diǎn)負(fù)載的整個電源轉(zhuǎn)換鏈!
  
  綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時,提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項(xiàng)測試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下正確的能驗(yàn)證。綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限值以內(nèi))或某百分比界限內(nèi)。
  
  E.輸出雜訊(PARD):
  
  輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期與隨機(jī)偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號、于20KHz之頻切換信號及其諧波,再與其它之隨機(jī)信號所組成)),通常以mVp-p峰對峰值電壓為單位來表示。般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz(或其它之頻寬如100MHz等)。開關(guān)電源實(shí)際工作時zui惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流zui大、輸入電源電壓zui低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不過輸出低電壓界限情形,否則將可能會導(dǎo)致電源電壓過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)步造成死機(jī)現(xiàn)象。
  
  例如5V輸出,其輸出雜訊要求為50mV以內(nèi)(此時包含電源調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、動態(tài)負(fù)載等其它變動,其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)。在測量輸出雜訊時,電子負(fù)載的PARD必須比待測之電源供應(yīng)器的PARD值為低,才不會影響輸出雜訊之測量。同時測量電路必須有良好的處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點(diǎn)上,并使用差動式量測方法(可避免地回路之雜訊電流),來獲得正確的測量結(jié)果,日本計(jì)測KEISOKUGEIKEN的PARD測試儀具備此種功能。
  
  F.輸入功率與效率:
  
  電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式:
  
  TruePower=Pav(watt)=V1Aidt=VrmsxArmsxPowerFactor
  
  即為對周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(PowerFactor),通常電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,而大功率之電源供應(yīng)器具備功率因素校正器者,其功率因素通常大于0.95,當(dāng)輸入電流波形與電壓波形相同時,功率因素為1,并依其不相同之程度,其功率因素為1~0之間。
  
  電源供應(yīng)器的效率之定義為:
  
  ΣVoutxlout/TruePower(watts)
  
  即為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。通常個人電腦用電源供應(yīng)器之效率為65%~8左右。效率提供對電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證,若效率過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問題,效率太低時會導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。由于近年來對于環(huán)保及能源消耗愈來愈重視,如電腦能源之星「EnergyStar」對開關(guān)電源之要求:于交流輸入功率為30Wrms時,其效率需為6以上(即此時直流輸出功率必須于18W);又對于ATX架構(gòu)開關(guān)電源于直流失能(DCDisable)狀態(tài)其輸入功率應(yīng)不大于5W。因此交流功率測試儀表需要既又范圍寬廣,才能合乎此項(xiàng)測試之需求。
  
  G.動態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載
  
  個定電壓輸出的電源,于設(shè)計(jì)中具備反饋回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋回路有的頻寬,因此了電源供應(yīng)器對負(fù)載電流變化時的反應(yīng)。若回路輸入與輸出之相移于增益(UnityGain)為1時,過180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上,電源供應(yīng)器工作時的負(fù)載電流也是動態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動作等),因此動態(tài)負(fù)載測試對電源供應(yīng)器而言是為重要的。可編程序電子負(fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時zui惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形,否則會導(dǎo)致電源之輸出電壓過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動作)之承受電源電壓而誤動作,進(jìn)步造成死機(jī)現(xiàn)象。
  
  H.電源良好/失效時間(PowerGood、PowerFail或Pok)
  
  電源良好信號,簡稱PGS(PowerGoodSignal或PokHigh),是電源送往電腦系統(tǒng)的信號,當(dāng)其輸出電壓穩(wěn)定后,通知電腦系統(tǒng),以便做開機(jī)程序之C而電源失效信號(PowerFail或PokLow)是電源供應(yīng)器表示其輸出電壓尚未達(dá)到或下降過于正常工作之情況。以上通常由「PGS」或「Pok」信號之邏輯改變來表示,邏輯為「1或High」時,表示為電源良好(PowerGood),而邏輯為「0或Low」時,表示為電源失效(PowerFail),請叁考圖5之時序圖:
  
  電源的電源良好(PowerGood)時間為從其輸出電壓穩(wěn)定時起到PGS信號由0變?yōu)?的時間,般值為100ms到2000ms之間。電源的電源失效(PowerFail)時間為從PGS信號由由1變?yōu)?的時間起到其輸出電壓低于穩(wěn)壓范圍的時間,般值為1ms以上。日本計(jì)測KEISOKUGEIKEN的電子負(fù)載可直接測量電源良好與電源失效時間,并可設(shè)定上下限,做為是否合格的判別。
  
  I.啟動時間(Set-UpTime)與保持時間(Hold-UpTime)
  
  啟動時間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時間,以輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動時間為從電源開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時間。
  
  保持時間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時間,以輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時間,般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或周之狀況下而受影響。

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